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La actividad denominada Análisis de superficies e Interfaces”comprende la posibilidad de realización de dos técnicas de caracterización de superficies: desde el punto de vista químico, la primera, y estructural, la segunda.

 

        Específicamente, comprenden los siguientes tipos de análisis:

1)     Espectro Auger

2)     Espectro Auger múltiple

3)     Perfil en profundidad

4)     Perfil en profundidad múltiple

5)     Espectro Auger preferencial

6)     Espectro Auger preferencial múltiple

7)     Perfil en profundidad preferencial

8)     Perfil en profundidad múltiple preferencial

9)     Microscopia de Fuerza Atómica, AFM aire

10)   Microscopia túnel de barrido, STM aire

11)   Microscopia túnel de barrido, STM/UHV

12)   Tratamiento de muestra para cada prestación

 

Análisis por espectroscopia de electrones Auger

        Es una técnica analítica que permite caracterizar químicamente la superficie de un material sólido, en un sistema en ultra alto vacío. La información proporcionada consiste en una representación (espectro) de la intensidad de las señales características de los diferentes elementos químicos presentes, en función de la energía de los electrones Auger emitidos y detectados.

        Dentro de esta descripción se incluyen las actividades 1) a 8). Las actividades 1), 2), 5) y 6) se refieren a la adquisición de uno o más espectros. El término “preferencial” hace referencia al trabajo que requiera de tratamiento urgente.

 

        El estudio “en profundidad” consiste en el análisis superficial de la muestra, de acuerdo a lo detallado previamente, seguido de un proceso continuo de decapado de dicha superficie mediante un procedimiento de bombardeo con iones de gases nobles. A causa de dicha erosión, a medida que se avanza en profundidad, quedan expuestas sucesivas superficies del material que se encuentran formando parte del mismo. En forma simultánea al decapado se obtienen espectros que permiten obtener información química, o perfil en profundidad. Las actividades 3), 4), 7) y 8) responden a este tipo de estudio.

 

Microscopia de Fuerza Atómica, AFM

        Es una técnica que permite estudiar la topografía superficial de un material a partir de las fuerzas de interacción “cantilever”/muestra, propiedades de fricción, eléctricas y magnéticas de la misma según el modo de trabajo elegido. Es utilizado para analizar superficies aislantes, conductoras o semiconductoras, a partir de puntas conductoras, no conductoras, magnéticas y modificadas. Como trabaja a presión atmosférica sirve para analizar muestras poco propensas a contaminarse con elementos atmosféricos. La actividad 9) responde a este tipo de estudio.

 

Microscopia túnel de barrido, STM

Es una técnica que, básicamente, se utiliza para analizar superficies de muestras conductoras, pudiendo ser metálicas, semiconductoras o películas muy delgadas de materiales aislantes. En el laboratorio se cuenta con dos tipos de cabezales diferentes. Uno de ellos trabaja a presión atmosférica, y en forma similar a lo que ocurre con el AFM, sirve para analizar muestras inertes (i.e. donde las condiciones ambientales no afectan las propiedades de la muestra). El otro cabezal trabaja bajo condiciones de ultra alto vacío (UHV). Sirve para analizar muestras sensibles a las condiciones ambientales y que poseen baja presión de vapor a temperatura ambiente. Se utilizan puntas metálicas, que suelen ser de W o Pt/Ir dependiendo del medio donde se hace el experimento (UHV o aire) y el tipo de muestra que se va a medir. Las actividades 10) y 11) responden a este tipo de estudio.

 

Los microscopios forman parte del Sistema Nacional de Microscopía (SNM), MiNCyT.

 

Tratamiento de muestra para cada prestación

El ítem 12) contempla aquellos tratamientos específicos que sean necesarios realizar al material en forma previa a su estudio. Son ejemplos de ellos: cortes a determinadas formas o tamaños, pulido de la superficie, otros.

 

Contactos:

por espectroscopía Auger, Dra. Silvia Montoro: silvia.montoro@santafe-conicet.gov.ar

por microscopías, Dr. Mario C. G. Passeggi (h): mpggih@ifis.santafe-conicet.gov.ar

 


                El Laboratorio GENOC tiene una experiencia de más de 20 años en la caracterización y diseño de sistemas fotovoltaicos. Este laboratorio cuenta con dos simuladores solares, de diseño propio y gran adaptabilidad, capaces de utilizarse con una amplia gama de tamaño de paneles. Posee sistemas automatizados que permiten una rápida lectura de las curvas I-V de los paneles. Cuenta además con instrumental apropiado para mediciones auxiliares, como son la aislación, resistencia al impacto, etc.

 

        Las actividades factibles de realizar son:

  • Caracterización eléctrica de paneles y celdas solares fotovoltaicas, con adquisición de curvas características I-V y normalización de las mismas a condiciones Standard.
  • Ensayos de Aislación eléctrico de paneles solares.
  • Ensayos de resistencia al impacto de paneles solares.
  • Ensayos de resistencia a la flexión de los paneles solares.
  • Ensayos de recepción por inspección visual de paneles solares fotovoltaicos.
  • Calibración de celdas de referencia.
  • Calibración de sistemas de adquisición de curvas I-V de paneles solares fotovoltaicos.
  • Fabricación, reparación y calibración de simuladores estacionarios.
  • Calibración de simuladores solares.
  • Verificación y reparación de sistemas de alto vacío.
  • Caracterización de fotodetectores.
  • Verificación de funcionamiento de equipos auxiliares de instalaciones solares fotovoltaicas.
  • Especificación técnica de paneles solares fotovoltaicos y equipos auxiliares de instalaciones específicas.
  • Redacción de pliegos de licitación para instalaciones solares.
  • Capacitación sobre energías alternativas.

 

Contacto: Ing. Mario Battioni: mario.battioni@santafe-conicet.gov.ar



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La espectroscopía de Resonancia Paramagnética Electrónica (EPR) puede aplicarse al estudio de muestras que tengan electrones desapareados. Algunas de las aplicaciones específicas son:

·         Determinación de densidad de defectos paramagnéticos en sólidos.

·         Caracterización de materiales nanoestructurados.

·         Detección y caracterización de radicales libres de larga vida en sólidos y líquidos.

·         Caracterización de metaloproteínas y complejos inorgánicos de metales de transición.

·         Marcación dirigida a sitios en proteínas.

·         Perfil de profundidad de orden lipídico en liposomas y membranas celulares.

·         Microviscosidad en citoplasma celular.

·         Otras a discutir.

 

        Se obtendrán espectros de EPR de las muestras enviadas por los comitentes utilizando el espectrómetro Bruker EMX-Plus ubicado en el Departamento de Física de la FBCB (adherido al Sistema Nacional de Resonancia Magnética, SNRM). En función de las necesidades de los comitentes se obtendrán los espectros a banda X o a banda Q; a temperatura ambiente o a temperaturas entre -150 ºC y 45 ºC utilizando un sistema de enfriamiento a base de nitrógeno líquido. Cuando se trabaje por debajo de 5ºC se requerirá además soplar continuamente la cavidad con nitrógeno seco, para evitar condensación. En situaciones especiales y previstas con tiempo pueden obtenerse mediciones a temperatura de He líquido. Puede registrarse la variación de los espectros con la temperatura en rangos definidos. Puede registrarse la variación angular en muestras monocristalinas. En casos necesarios se seguirá la evolución de reacciones lentas en función del tiempo. Pueden incorporarse marcadores de espín en el caso de muestras no paramagnéticas. Pueden usarse trampas de espín para el caso de radicales libres de vida corta.

       

Prestaciones:

 

EPR a temperatura ambiente, banda X.

EPR a temperaturas controladas entre 5º y 45ºC, banda X.

EPR a temperaturas entre -150º y  5ºC, banda X.

EPR con criostato de He líquido

EPR con incorporación de marcadores o de trampas de espín (banda X)

EPR en banda Q  (T ambiente)

 

Contacto: Dra. Ana María Gennaro: ana.gennaro@santafe-conicet.gov.ar


Contacto

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Gral. Güemes 3450, S3000GLN Santa Fe, Argentina

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